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    介電常數介質(zhì)損耗測試儀

    介電常數介質(zhì)損耗測試儀

    簡(jiǎn)要描述:介電常數介質(zhì)損耗測試儀新購的儀器 好能先用LKI-1電感組,將各個(gè)電感在各個(gè)不同頻率測試Q值,把測試的情況,例使用的電感號、測試頻率Q讀數、電容讀數等多次測得數及測試環(huán)境條件逐一詳細記錄,并把記錄保存起來(lái),以供以后維修時(shí)作參考。
    LKI-1電感組是測試時(shí)作輔助電感用的,不能把這些電感當作高精度的標準電感看待。隨著(zhù)測試環(huán)境條件不同,測得電感器Q值和分布電容可能略有不同。

    更新時(shí)間:2023-10-24

    產(chǎn)品型號:GDAT-A

    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

    訪(fǎng)問(wèn)量:2034

    產(chǎn)品詳情
    品牌其他品牌價(jià)格區間1萬(wàn)-2萬(wàn)
    應用領(lǐng)域化工,農業(yè),建材,電子,紡織皮革

    介電常數介質(zhì)損耗測試儀儀器技術(shù)指標:

    ☆電感測量:

    a.測量范圍:14.5nH~8.14H。

    b.分    檔:分七個(gè)量程。

          0.1~1μH,    1~10μH,    10~100μH,  

          0.1~lmH,     1~10mH,     10~100mH,   100 mH~1H。

    ☆Q值測量:

    a.Q值測量范圍:2~1023。              b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。

    c.標稱(chēng)誤差

          頻率范圍:20kHz~10MHz;       固有誤差:≤5%±滿(mǎn)度值的2%;工作誤差:≤7%±滿(mǎn)度值的2%;

          頻率范圍:10MHz~60MHz;      固有誤差:≤6%±滿(mǎn)度值的2%;工作誤差:≤8%±滿(mǎn)度值的2%。

    ☆振蕩頻率:

    a.振蕩頻率范圍:10kHz~50MHz;

    b.頻率分段(虛擬)10~99.9999kHz、100~999.999kHz、1~9.99999MHz、10~60MHz

    c.頻率誤差:3×10-5±1個(gè)字。

    ☆儀器正常工作條件

    a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;            

    b. 相對濕度:<80%;           

    c. 電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。   

    ☆其他

    a.消耗功率:約25W;            

    b.凈重:約7kg;          

    c.外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

    ☆電容測量:

    a.測量范圍:1~460pF(460pF以上的電容測量見(jiàn)使用規則);

    b.電容量調節范圍

          主調電容器:30~500pF;                準  確  度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;

          注:大于直接測量范圍的電容測量見(jiàn)使用規則

    ☆ Q合格指示預置功能

    預置范圍:5~1000。

    ☆主要配置:

    a.測試主機一臺;

    b.電感9只;

    c.夾具一 套

    介電常數介質(zhì)損耗測試儀高分子材料的損耗

    高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性?xún)深?lèi)。一般地,偶極矩在0~0.5D(德拜)范圍內的是非極性高聚物;偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。非極性高聚物具有較低的介電常數和介質(zhì)損耗,其介電常數約為2,介質(zhì)損耗小于10-4;極性高聚物則具有較高的介電常數和介質(zhì)損耗,并且極性愈大,這兩個(gè)值愈高。

    高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團的取向,因此熱固性高聚物的介電常數和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹(shù)脂就是典型的例子,雖然這種高聚物的極性很強,但只要固化比較*,它的介質(zhì)損耗就不高。相反,支化使分子鏈間作用力減弱,分子鏈活動(dòng)能力增強,介電常數和介質(zhì)損耗均增大。

    高聚物的凝聚態(tài)結構及力學(xué)狀態(tài)對介電性景響也很大。結品能抑制鏈段上偶極矩的取向極化,因此高聚物的介質(zhì)損耗隨結晶度升高而下降。當高聚物結晶度大于70%時(shí),鏈段上的偶極的極化有時(shí)*被抑制,介電性能可降至 低值,同樣的道理,非晶態(tài)高聚物在玻璃態(tài)下比在高彈態(tài)下具有更低的介質(zhì)損耗。此外,高聚物中的增塑利、雜質(zhì)等對介電性能也有很大景響。

    A/C高頻Q表能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位。

    滿(mǎn)足標準:

    GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法

     

    各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定,諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索,Q值量程自動(dòng)轉換,數值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至低,并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。

    使用方法

    高頻Q表是多用途的阻抗測量?jì)x器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。

    1.測試注意事項

    a.本儀器應水平安放;

    b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;

    c.調節主調電容或主調電容數碼開(kāi)關(guān)時(shí),當接近諧振點(diǎn)時(shí)請緩調;

    d.被測件和測試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數所帶來(lái)的測量誤差;

    e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

    f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線(xiàn)柱。

    2.高頻線(xiàn)圈的Q值測量(基本測量法)

    注意事項

    a.本儀器應水平安放;

    b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;

    c.調節主調電容或主調電容數碼開(kāi)關(guān)時(shí),當接近諧振點(diǎn)時(shí)請緩調;

    d.被測件和測試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數所帶來(lái)的測量誤差;

    e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

    f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線(xiàn)柱。

    影響介電性能的因素

     下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響。

    1頻率

     因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的 。r和  tans幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數和電容率。

     電容率和介質(zhì)損耗因數的變化是由于介質(zhì)極化和電導而產(chǎn)生,重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的.

    2溫度

     損耗指數在一個(gè)頻率下可以出現一個(gè)大值,這個(gè)頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數和電容率的溫度系數可以是正的或負的,這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數大值位置。

    3濕度

     極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加,其結果使電容率、介質(zhì)損耗因數和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時(shí)對環(huán)境濕度進(jìn)行控制是*的.

     注:濕度的顯著(zhù)影響常常發(fā)生在 1MHz以下及微波頻率范圍內

    4電場(chǎng)強度

     存在界面極化時(shí),自由離子的數目隨電場(chǎng)強度增大而增加,其損耗指數大值的大小和位置也隨此而變。

     在較高的頻率下,只要電介質(zhì)中不出現局部放電,電容率和介質(zhì)損耗因數與電場(chǎng)強度無(wú)關(guān)。

     如果你對GDAT-A介電常數介質(zhì)損耗測試儀感興趣,想了解更詳細的產(chǎn)品信息,填寫(xiě)下表直接與廠(chǎng)家聯(lián)系:

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